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MAR1PSD
- Routine mar1psd: To compute the power spectum by AR-model parameters. Input parameters: ip : AR model order (integer) ep : White noise variance of model input (real) ts : Sample interval in seconds (real) a : Complex array of AR parame
89S256
- AT89C51是一种带4K字节闪烁可编程可擦除只读存储器（FPEROM—Falsh Programmable and Erasable Read Only Memory）的低电压，高性能CMOS8位微处理器，俗称单片机。该器件采用ATMEL高密度非易失存储器制造技术制造，与工业标准的MCS-51指令集和输出管脚相兼容。由于将多功能8位CPU和闪烁存储器组合在单个芯片中，ATMEL的AT89C51是一种高效微控制器，为很多嵌入式控制系统提供了一种灵活性高且价廉的方案。-AT89C51 is a k
2007010315
- 做热表计量用，0-100度水的焓值表密度表，MSP430F149上调试过。-do with heat meter ,0-100 degrees enthalpy value of the water table density table, MSP430F149 upward tried.
AT89S52yuanlitu
- AT89S52原理图AT89S52是一种低功耗、高性能CMOS8位微控制器，具有8K 在系统可编程 Flash 存储器。使用 Atmel 公司高密度非 易失性存储器技术制造，与工业 80C51 产品指令和引脚完全兼容。片上Flash允许程序储器在系统可编程，亦适于常规编程器。在单芯片上，拥有灵巧的 8 位 CPU 和在系统可编程Flash，使得 AT89S52为众多嵌入式控制应用系统提供高灵活、超有效的解决方案。 -AT89S52 AT89S52 diagram is a low-power
eepDemo
- 密度测试仪的源码-density tester source of the density tester source density tester source of absolute originality
ldpcber
- This LDPC software is intended as an introduction to LDPC codes computer based simulation. The pseudo-random irregular low density parity check matrix is based on Radford M. Neal’s programs collection, which can be found in [1]. While Neal’s collecti
stm32f10x_stdperiph_lib_v3.0.0
- stm32库文件3.0 版。截止09.4.30最新版。内有英文说明，在英文官方下的。中文的没有。相对2.x版本变动较大 stm32f10x_stdperiph_lib_v3.0.0.zip,The STM32F10x Standard Peripheral Library is a complete package, consisting of device drivers for all of the standard device peripherals, for High-, Mediu
5B6B
- FPGA的5B6B编译码器的设计代码可以编译而且有波形图 -5B6B code is used in fiber optic digital communication systems a more extensive line pattern! Data are 5B6B encoding and conversion, and string after the fiber transmission, serial code sequences in continuous bit 0 or b
STM3210ELK
- STM3210E-LK 开发板的使用手册 -User manual of STM3210E-LK learning kit The STM3210E-LK is a version of the STM32-LK learning kit for the STM32F103ZET6 (LQFP144) microcontroller. The STM32F103ZET6 is high density STM32 microcontroller based on the Cort
shumi
- 波形发生器之疏密波的产生，这是一个通过内部选择器来从密波和疏波当中在某一该是选择输出的程序。-Waveform generator of the density wave, and this is an internal selector from thinning dense wave and wave them in a selection of the output process.
at89s52cn
- AT89S52是一种低功耗、高性能CMOS8位微控制器，具有 8K 在系统可编程Flash 存储器。使用Atmel 公司高密度非 易失性存储器技术制造，与工业80C51 产品指令和引脚完 全兼容。片上Flash允许程序存储器在系统可编程，亦适于 常规编程器。在单芯片上，拥有灵巧的8 位CPU 和在系统 可编程Flash，使得AT89S52为众多嵌入式控制应用系统提 供高灵活、超有效的解决方案。 -AT89S52 is a low-power, high-perform
AirParm1
- 空气参数计算，密度，湿度，粘度，导热系数-Air parameters, density, humidity, viscosity, thermal conductivity
2N7000
- These N-Channel enhancement mode field effect transistors are produced using Fairchild s proprietary, high cell density, DMOS technology. These products have been designed to minimize on-state resistance while provide rugged, reliable, and fa
3V
- 我们对处理速度的需求日益增长，伴随着这种增 长，用来构建单片机的晶体管尺寸则在持续减小。 以更低的成本实现更高的集成度，也促进了对更小 的几何尺寸的需求。随着尺寸的减小，晶体管击穿 电压变得更低，最终，当击穿电压低于电源电压 时，就要求减小电源电压。因此，随着速度的提高 和复杂程度的上升，对于高密度器件而言，不可避 免的后果就是电源电压将从 5V 降至 3.3V，甚至 1.8V。-We are increasing the demand for processin
at89S52_cn
- AT89S52是一种低功耗、高性能CMOS8位微控制器，具有8K 在系统可编程Flash 存储器。使用Atmel 公司高密度非易失性存储器技术制造，与工业80C51 产品指令和引脚完全兼容。片上Flash允许程序存储器在系统可编程，亦适于常规编程器。在单芯片上，拥有灵巧的8 位CPU 和在系统可编程Flash，使得AT89S52为众多嵌入式控制应用系统提供高灵活、超有效的解决方案。-AT89S52 is a low-power, high-performance CMOS8-bit microc
remin
- 热敏机芯驱动板主要规格 可配富士通、三星、精工、APS、爱普生、西铁城、国产等兼容打印头 打印方法：直接热敏打印 打印纸宽：57.5±0.5mm 打印密度：8点／mm，384点／行 打印速度：约60mm／秒或20行／秒 打印头寿命：6X10e6字符行 有效打印宽度：48mm 走纸速度：约60mm／秒或20行／秒 操作温度：5～50 操作相对湿度：10～80 储存温度：－20～60 储存相对湿度：10～90 电源：直流5-8V，3A-Ther
basketball
- AT89C51是一个低电压，高性能CMOS 8位单片机，片内含4k bytes的可反复擦写的Flash只读程序存储器和128 bytes的随机存取数据存储器（RAM），器件采用ATMEL公司的高密度、非易失性存储技术生产，兼容标准MCS-51指令系统，内置功能强大的微型计算机的AT89C51提供了高性价比的解决方案-AT89C51 is a low-voltage, high-performance CMOS 8-bit single chip, the chip contains 4k byt
pwelch
- Power Spectral Density estimate via Welch s method.
Density-Conscious-Subspace-Clustering-for-High-Di
- Density Conscious Subspace Clustering for High-Dimensional Data
Measurements-of-coating-density
- 基于超声波检测系统的测距原理，以及相应的方法和原理图及仿真图等-Measurements of coating density using ultrasonic reflection coefficient phase spectrum