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IOmon3
- 利用386保护模式将DOS实模式下的PC总线I/O操作（in/out）实时捕捉到内存并可以显示在屏幕上。可用于ISA/VESA/PCI插卡及相关软件的输入/输出调试、I/O性能/行为分析和反汇编。Version 3增加了连续相同I/O操作的压缩记录功能，大大提高了内存利用率。同时提供了一些编译、测试脚本和BC3.1工程文件供大家在BC3.1下进一步开发。
VHDL_100_1
- 第43例 四位移位寄存器 第44例 寄存／计数器 第45例 顺序过程调用 第46例 VHDL中generic缺省值的使用 第47例 无输入元件的模拟 第48例 测试激励向量的编写 第49例 delta延迟例释 第50例 惯性延迟分析 第51例 传输延迟驱动优先 第52例 多倍（次）分频器 第53例 三位计数器与测试平台 第54例 分秒计数显示器的行为描述6 第55例 地址计数器 第56例 指令预读计数器 第57例 加.c减.c乘指令的
ARM_vibration_system
- 基于ARM处理器的便携式振动测试分析系统的研究与设计-ARM processor-based portable vibration test and analysis system, Research and Design
MINI2440_PWM_TEST
- MINI2440裸机蜂鸣器测试源代码分析-MINI2440 bare metal buzzer test source code analysis
SoC_JTAG_debug
- 本文首先介绍了JTAG标准和SoC调试技术，研究了基于JTAG的多核SoC调试结构，优化了一种全兼容多核SoC调试结构，使JTAG控制器的互连能配置成多种模式，以实现单核或多核SoC调试；然后在IEEEl 149．1标准的基础上进行了结构化改进，扩展了指令集与寄存器，实现了基于JTAG标准的SoC调试系统；最后进行了SoC调试系统的功能测试与性能分析，测试结果表明本文实现的SoC调试系统比现有的同类调试工具在功能与性能方面都有明显提高。-This paper describes the JTAG
DCC-_based-_ARM-JTAG-debugger
- 本文详细介绍了基于DCC和JTAG的删硬件仿真调试器的研究与设计 过程。该硬件仿真调试器除了具有下载、断点、单步运行、连续运行、读写内存区域和对寄存器操作等基本调试功能外，还有通过使能DCC通道，来进行快速对目标机内存读写的功能。因为读写内存是调试过程中最常用的功能，这样就大大地提高了调试的效率。文中，首先对嵌入式系统开发和嵌入式调试器进行了全面的介绍。然后对当前嵌入式调试中应用最为广泛的JTAG技术和删中的 JTAG原理作了详细介绍。接着对删片上调试原理进行了深入分析。最后， 深入阐述了L锄b
ARM_boot
- ARM的启动测试研究,针对存储分配，细节等都有分析说明-the boot test for ARM
Spindle-test
- 用于机床系统参数测试与分析，可以测试、位移、速度、加速度、温度等数据-System parameters for machine testing and analysis, testing, displacement, velocity, acceleration, temperature, and other data
频谱分析仪Tcl源码V6
- 频谱分析仪是研究电信号频谱结构的仪器，用于信号失真度、调制度、谱纯度、频率稳定度和交调失真等信号参数的测量，可用以测量放大器和滤波器等电路系统的某些参数，是一种多用途的电子测量仪器。它又可称为频域示波器、跟踪示波器、分析示波器、谐波分析器、频率特性分析仪或傅里叶分析仪等。现代频谱分析仪能以模拟方式或数字方式显示分析结果，能分析1赫以下的甚低频到亚毫米波段的全部无线电频段的电信号。仪器内部若采用数字电路和微处理器，具有存储和运算功能；配置标准接口，就容易构成自动测试系统。