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DEC643_SDRAM
- 用dsp实现sdram读写，有EMIF配置信息-Dsp SDRAM read and write with the realization, there EMIF configuration information
ex1_RAMTest
- （1）测试外部数据RAM： 根据我们定义的逻辑，外部RAM在数据空间中定义在0x8000－0xFFFF，共32k字，占据RAM中的低32K存储空间。提供2种测试方法，采用一种方式即可。 硬件仿真模式下，将目标板上电。 第一种方法：采用用程序测试实验 程序所在目录ex1_RAMTest。 该程序执行的功能是对外部数据RAM区0x8000－0xFFFF,从0x8000开始写并且读数据0x5555 。如果正常则写读下一个地址，直到 。如果正常则所有的地址操作完毕后，核心板
2407ADC
- 该程序用事件管理器B的定时器4定时时间来触发A/D采样的启动。采样时采用级联模式，一次做16个转换，转换通道分别是0~15。转换完成后，在A/D中断服务子程序中将转换结果读出。该程序做一次A/D采样。 -The program manager with the events of the timer 4 timing B to trigger A/D sampling start. Sample used in cascade mode, do a 16 conversion, conver
F2812_EXFlash
- F2812扩展外部Flash，实现读写数据。（CCS3.3开发环境下） 功 能：访问外部Flash空间，与外部Flash可以实现读写数据 说 明：本实验是和外部RAM实验连起来的，先给外部RAM进行写数据操作，然后再把RAM里的数据写到外部FLASH中。本实验中，请在BlockErase(0)这一行设置断点，当运行至断点时，点击view,然后点击memory来查看存储空间，Address填写0x00080000，点击ok，就能看到从0x00080000开始，各个存储单元的值从0开始递增。-F
TMS320VC5410-programs
- 目录： 硬件平台TMS320VC5410，软件平台CCS5000 exp1、 A/D实验一 说明：本实验使用AD 将模拟信号变换成数字信号，使用DSP对转换后的数字信号读取、保存，并将数据送往D/A，在示波器上观察D/A 的输出波形。 exp2、 FIR 滤波器实验 说明：本实验设计一个FIR低通数字滤波器，通带截至频率为1500Hz，阻带截至频率为2000Hz，采样频率为8000Hz。 exp3、余弦波生成实验 说明：本实验产生连续的余弦波，可在ccs上观察波形。-
Ex3_3
- TMS320C54x片内有1条程序总线，3条数据总线和4条地址总线。这3条数据总线（CB、DB和EB）将内部各单元连接在一起。其中，CB和DB总线传送从数据存储器读出的操作数，EB总线传送写到存储器中的数据。并行运算就是同时利用D总线和E总线。其中，D总线用来执行加载或算术运算，E总线用来存放先前的结果。 并行指令有并行加载和乘法指令，并行加载和存储指令，并行存储和乘法指令，以及并行存储和加/减法指令4种。所有并行指令都是单字单周期指令。并行运算时存储的是前面的运算结果，存储之后再进行加载或
ads1232
- 基于LPC下ADS1232的A/D采集编程，经典例子，告诉你如何使用LPC读出AD的采集数据。-Under the LPC-based ADS1232 A/D acquisition program, the classic example, tell you how to use LPC to acquire data read out of AD.
BF518-SPORT-read-AD7606
- ADI公司的BF518定点DSP通过SPORT口读取A/D芯片AD7606采样的数据。本程序为完整工程，可以参考使用(ADI s fixed-point DSP BF518 read A/D chip AD7606 sampling data through SPORT mouth. This program is a complete project, you can refer to the use)