这篇文章主要介绍 ARM JTAG 调试的基本原理。 基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍， 在此基础上， 结合 ARM7TDMI 详细介绍了的 JTAG 调试原理。(OPEN-JTAG Development Group.)