现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体，以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ＲＯＭ以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明，这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。-modern microproces

在墨西哥，一个两层的预制混凝土构件建成的预制混凝土建筑物，在其上加上模拟的地震荷载。在这里描述的是其结果。在测试结构物中所选择的结构系统是所谓的双重类型，其定义就是构造墙的结合点以及梁-柱框架。测试结构物中预制梁柱之间的结合是窗型的。这种类型的建设显著地用在低的或中等高建筑物中，在这种建筑中在每一楼层中柱子和窗子连在一起。这些“窗”包含顶部和底部的钢筋。图1所示的是在墨西哥市中这种类型的一个商业建筑物。-The dimensions and some characteristics of the