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8051F
- 8051F实现多功能晶体管测试仪，包括19*264的LCD显示和键盘，核心算法等
MSP430z_f247
- 以MSP430单片机为核心，设计的晶体管图形参数测试仪，能完成PNP与NPN管的自动识别和输入输出曲线绘制现实（12864现实），菜单输入，使用触摸屏-MSP430 f247
STC12C5616AD_test
- STC12C5616AD单片机晶体管自动识别测试仪的程序（c语言）-STC12C5616AD automatically identify chip transistor tester program
NPN-detect
- 基于msp430单片机编写的，用的是嵌入式C语言。用C编译环境可以打开。实现了在msp430单片机上做出NPN晶体管特性曲线的测试仪。这是代码。-Msp430 microcontroller based on written, using Embedded C language. Environment with C compiler can open. Msp430 microcontroller implements made in the NPN transis
STC12C5052AD
- 基于Keil C51的晶体管测试仪（改为其他型号的单片机很容易，关键是STC12C5052AD比较便宜），里面的特征测试要用到AD转换，功能：基本晶体管引脚识别，hFE，二极管引脚识别，PN及NP压降，单向可控硅引脚识别，触发电压及维持偏压测试。-Based on Keil C51 transistor tester (to other types of microcontrollers is easy, the key is STC12C5052AD cheaper), which use t
transistor-tester-based-on-LabVIEW
- 本文介绍一种基于NI LabVIEW和北京君合泰科技有限公司U18数据采集卡的晶体管特性测试仪的设计方法，内容包含循环扫描数据采集、回扫消隐、多曲线显示、传输系数计算、被测硬件电路设计等，并给出详细的前面板图和程序框图以及三极管、MOS管、光电耦合器等部分器件的特性曲线测试例子-This paper introduces a design method of transistor characteristic tester based on NI LabVIEW and Beijing Jun
ttester_110k
- 基于Atmega8/168/328的多功能晶体管测试仪（可测晶体管、电容、电阻、电感、频率、电压等）软件源码。详细介绍请点击：http://www.mikrocontroller.net/articles/AVR_Transistortester-Based Atmega8/168/328 multifunctional transistor tester (measurable transistors, capacitors, resistors, inductors, frequency,
ttester_105k
- 基于Atmega8/168/328的晶体管测试仪软件源码（版本：V1.05，此版本适用于国内大多数AVR晶体管测试仪的PCB设计）关于AVR晶体管测试仪的介绍，请看：http://www.mikrocontroller.net/articles/AVR_Transistortester-Based Atmega8/168/328 transistor tester software source code (version: V1.05, this version applies to most
ttester_eng110k
- 基于Atmega8/168/328的多功能晶体管测试仪V1.10（可测晶体管、电容、电阻、电感、频率、电压等）制作说明，包括电路原理图、制作帮助、原理等。详细介绍请点击：http://www.mikrocontroller.net/articles/AVR_Transistortester-Based Atmega8/168/328 multifunctional transistor tester V1.10 (measurable transistors, capacitors, resis
晶体管测试仪
- 德国人开发的一个小工具，里面包含电路，PCB,固件源代码，可以测试晶体管的常见参数