Norm 1149.1 implemented in VHDL language.

1.1 Compliant with IEEE 1149.1 1.2 Support mandatory BYPASS, SAMPLE/PRELOAD, EXTEST instructions 1.3 Support user register connection beetween TDI-TDO 1.4 Boundary-scan register consist of cell type BC_1

这篇文章主要介绍 ARM JTAG 调试的基本原理。 基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍， 在此基础上， 结合 ARM7TDMI 详细介绍了的 JTAG 调试原理。(OPEN-JTAG Development Group.)